(1) 接線盒密封盒體內(nèi)大量積水;
(2) 接線盒盒體與背板材料不匹配;
(3) 接線盒的密封螺母開裂失效;
(4) 接線盒在老化預(yù)處理測(cè)試中盒體變形;
(5) 接線盒密封圈老化預(yù)處理測(cè)試后失效,或其他原因。
通過(guò)對(duì)以上測(cè)試過(guò)程中出現(xiàn)的失敗現(xiàn)象進(jìn)行研究分析,得出以下幾點(diǎn)失敗原因:
(1) 盒體的鎖扣設(shè)計(jì):
鎖扣設(shè)計(jì)成兩扣模式可能是導(dǎo)致試驗(yàn)失敗的主要原因。兩扣模式使得盒蓋受力集中在二點(diǎn),加上盒蓋面積較大,導(dǎo)致其余各點(diǎn)受力很不均勻。特別是在高溫時(shí),其余各點(diǎn)受密封圈熱脹、材料受熱變軟的影響,導(dǎo)致接線盒齜口,影響盒體的密封性,從而在 IP65 防水測(cè)試中失?。ㄈ鐖D 2)。
圖2 防水測(cè)試后接線盒變形、大量積水
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